Zusammenfassung
Zur Aufnahme von Feinstrahl-Elektronenbeugungsdiagrammen werden in die Projektionsstufe des 200 kV-Universal-Elektronenmikroskopes normale Objektiveinsätze nach dem Vorschlag des erstgenannten Verfassersumgekehrt eingesetzt. Je nach Wahl der magnetischen Erregung erfolgt dann in der Objektebene eine mehr oder weniger starke elektronenoptische Verringerung des Strahlquerschnittes gegenüber der Feinlochblende des Einsatzes. Z. B. durch Betätigung der Blendverstellungen kann die so entstehende Elektronensonde mikroskopischer Feinheit an beliebige Stellen des Präparates gelegt werden. Durch einfaches Herausdrehen der Blendzunge wird ein Übersichtsbild des Präparates erhalten. Bei gleichbleibender Spannung und magnetischer Erregung ergeben die Koordinaten der Durchstoßpunkte in den Beugungsdiagrammen unmittelbar die Orte der Sonden im Übersichtsbilde. An einem Blattgoldpräparat gewonnene Beugungsdiagramme, denen Strahldurchmesser von 1, 6, 15 und 150 μ zugrunde liegen, zeigen die praktischen Möglichkeiten der beschriebenen Arbeitsweise. Einige Feinstrahldiagramme von wichtigen Substanzen der Faserchemie finden sich im letzten Teil wiedergegeben und besprochen.
Additional information
Dem Direktor des Kaiser Wilhelm-Instituts für physikalische Chemie, Herrn Prof. P. Thiessen, ist der erstgenannte Verfasser für wertvolle Anregungen dankbar. Der Deutschen Forschungsgemeinschaft, die den Bau des 200 kV-Universal-Elektronenmikroskops entscheidend gefördert hat, ist der gleiche Verfasser ebenfalls sehr verpflichtet. Dem Direktor des Forschungslaboratoriums des Deutschen Zellwolle- und Kunstseide-Ringes, Herrn Dr. E. Franz, möchten die beiden letztgenannten Verfasser auch an dieser Stelle für das rege, dieser Arbeit entgegengebrachte Interesse ihren Dank aussprechen.
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von Ardenne, M., Schiebold, E. & Günther, F. Feinstrahl-Elektronenbeugung im Universal-Elektronenmikroskop. Z. Physik 119, 352–365 (1942). https://doi.org/10.1007/BF01329817
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DOI: https://doi.org/10.1007/BF01329817