Zusammenfassung
Nach einer Diskussion der bisher vorhandenen Methoden zur Bestimmung der optischen Konstanten dünner Metallschichten wird ein neuer einfacher Weg zur Berechnung der besonders wichtigen Größe n · k aus Intensitätsmessungen gewiesen. Die für diesen Zweck abgeleiteten Näherungsformeln werden sorgfältig auf ihre Anwendbarkeit geprüft. Zweitens wird eine einfache Nachprüfung der Maxwellschen Theorie vorgenommen. Ferner gibt die Arbeit ein Kriterium für die Güte von Intensitätsmessungen an dünnen Metallschichten. Das Versagen der Murmannschen und der Véenemansschen Methode für dünnste Schichten findet eine einfache Erklärung. Schließlich wird ein Weg zu einer optischen Schichtdickenbestimmung vorgeschlagen und an Beispielen erprobt. Eine gegenauere Zusammenfassung befindet sich am Schluß.
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Dissertation der Philosophischen Fakultät der Universität Kiel.
Herrn Prof. Dr. Unsöld danke ich für die Stellung des Themas und sein förderndes Interesse an der Arbeit. Für die Überlassung von unveröffentlichten Meßresultaten bin ich Herrn Prof. Dr. Goos in Hamburg zu großem Dank verpflichtet.
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Wolter, H. Zur Optik dünner Metallfilme. Z. Physik 105, 269–308 (1937). https://doi.org/10.1007/BF01330601
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DOI: https://doi.org/10.1007/BF01330601