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Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme

Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung

  • Book
  • © 2020

Overview

Authors:
  1. Titu-Marius I. Băjenescu

    1. La Conversion, Switzerland

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  • Von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung
  • Präzise und praxisnahe Zuverlässigkeitsaspekte umfassend dargestellt, ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme
  • Praktischen Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit der verschiedenen Komponenten

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Table of contents (12 chapters)

  1. Front Matter

    Pages I-XXXIII
    Download chapter PDF

  2. Einführungskapitel

    • Titu-Marius I. Băjenescu
    Pages 1-63

  3. Zuverlässigkeitsengineering

    1. Front Matter

      Pages 65-65
      Download chapter PDF

    2. Zuverlässigkeit einbauen

      • Titu-Marius I. Băjenescu
      Pages 67-100

    3. Halbleiterpackaging/Verpackungstechnologien und Zuverlässigkeit

      • Titu-Marius I. Băjenescu
      Pages 101-164

    4. Memristor, der Speicherwiderstand

      • Titu-Marius I. Băjenescu
      Pages 165-195

    5. Test und Testbarkeit integrierter Schaltungen

      • Titu-Marius I. Băjenescu
      Pages 197-234

  4. Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente

    1. Front Matter

      Pages 235-235
      Download chapter PDF

    2. Zuverlässigkeit diskreter passiver Bauelemente

      • Titu-Marius I. Băjenescu
      Pages 237-282

    3. Zuverlässigkeit von Leistungsbauelementen

      • Titu-Marius I. Băjenescu
      Pages 283-326

    4. Zuverlässigkeit monolithisch integrierter Schaltungen

      • Titu-Marius I. Băjenescu
      Pages 327-372

    5. Aspekte der Zuverlässigkeit von Halbleiterspeichern und Mikroprozessoren

      • Titu-Marius I. Băjenescu
      Pages 373-434

    6. Zuverlässigkeit optoelektronischer Komponenten

      • Titu-Marius I. Băjenescu
      Pages 435-497

    7. Zuverlässigkeit von Mikro- und Nanosystemen

      • Titu-Marius I. Băjenescu
      Pages 499-571

    8. Fehleranalyse

      • Titu-Marius I. Băjenescu
      Pages 573-614

  5. Back Matter

    Pages 615-639
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Keywords

About this book

Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung.

Authors and Affiliations

  • La Conversion, Switzerland

    Titu-Marius I. Băjenescu

About the author

Titu-Marius I. Băjenescu ist emeritierter Universitätsprofessor und war zuletzt als unabhängiger Berater in den Bereichen Telekommunikation, Zuverlässigkeit, Qualität und Sicherheit elektronischer Systeme tätig. Er hat an zahlreichen europäischen Universitäten geforscht und gelehrt und für seine Leistungen zwei Ehrendoktortitel erhalten. Er ist Autor mehrerer Bücher zum Thema elektronischer Bauelemente in französischer, rumänischer, englischer und deutscher Sprache.

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