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Ein lichtmikroskopisches Verfahren zur zweieinhalbdimensionalen Auswertung von Oberflächen

  • Conference paper
Mustererkennung 1986

Part of the book series: Informatik-Fachberichte ((2252,volume 125))

Zusammenfassung

Aus einer Mikroskopbildserie mit veränderter Fokuseinstellung können dreidimensionale (3D) Informationen des betrachteten Objekts ermittelt werden. Hierzu wird die Fokusserie einer metallischen Oberfläche im Auflichtmikroskop aufgezeichnet. Durch ein Differenzverfahren wird für jeden Punkt in der Bildebene die Tiefe ermittelt und in einer Tiefenkarte eingetragen.

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Referenzen

  1. Abou-Aly, M.: Meßverfahren zur Beschreibung der Oberfläche mit Hilfe des Lasers. In: Metalloberfläche. München 31. Jahrgang, 1977. Heft 12.

    Google Scholar 

  2. Ahlers, R.-J.: Optische Verfahren zur Oberflächenprüfung. In: wt; Zeitschrift für industrielle Fertigung. Berlin 74. Jahrgang, 1983.

    Google Scholar 

  3. Brodmann, R.: Optisches Rauheitsmeßgerät für die Fertigung. In: Feinwerktechnik & Meßtechnik. München 91. Jahrgang, 1983. Heft 2. S.63-67.

    Google Scholar 

  4. Zinser, G. u.a.: Erzeugung und Rekonstruktion dreidimensionaler lichtmikroskopischer Bilder. In: Mustererkennung 1983, 5. DAGM-Symposium Karlsruhe, Oktober 1983. Hrsg. von H. Kazmierczak. Berlin: VDE-Verlag, 1983. S.294–299.

    Google Scholar 

  5. Diese Thematik wurde diskutiert in: Hauptseminar zur mehrdimensionalen Systemtheorie und Bildverarbeitung und Mustererkennung, WS 85/86. Lehrstuhl für Nachrichtentechnik der TU München.

    Google Scholar 

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Authors and Affiliations

  1. Lehrstuhl für Nachrichtentechnik, Technische Universität München, Arcisstr. 21, D-8000, München 2, Deutschland

    J. Steurer

  2. Signum Computer für Signalverarbeitung und Mustererkennung, Tegemseer Landstr. 135, D-8000, München 90, Deutschland

    H. Giebel

  3. Bayerische Motoren Werke, Postfach 40 02 40, D-8000, München 40, Deutschland

    W. Altner

Authors
  1. J. Steurer
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  2. H. Giebel
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  3. W. Altner
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Editors and Affiliations

  1. Fachbereich 14 Elektrotechnik, Universität-Gesamthochschule-Paderborn, Pohlweg 47–49, 4790, Paderborn, Deutschland

    Georg Hartmann

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© 1986 Springer-Verlag Berlin Heidelberg

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Steurer, J., Giebel, H., Altner, W. (1986). Ein lichtmikroskopisches Verfahren zur zweieinhalbdimensionalen Auswertung von Oberflächen. In: Hartmann, G. (eds) Mustererkennung 1986. Informatik-Fachberichte, vol 125. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-71387-3_12

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  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-642-71387-3_12

  • Publisher Name: Springer, Berlin, Heidelberg

  • Print ISBN: 978-3-540-16812-6

  • Online ISBN: 978-3-642-71387-3

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