Der elektrische Widerstand des gerichtet umgewandelten ß-Cu-In-Eutektoids

Zusammenfassung

Sind die Abmessungen eines elektrischen Leiters in mindestens einer Dimension so gering, daß sie in die Größenordnung der freien Weglängen der Leitungselektronen fallen, so erfahren die Leitungselektronen durch diffuse Streuung an der Oberfläche des Leiters einen zusätzlichen Widerstand. Dieses unter dem Begriff “Size-Effekt” bekannte Phänomen ist an dünnen metallischen Schichten und an dünnen Drähten schon seit geraumer Zeit untersucht und auch theoretisch erörtert worden [84]. Wie einige neuere Arbeiten [85 – 88] gezeigt haben, tritt der Size-Effekt der Elektronenleitung auch in Kompositen mit genügend feinen Gefügebestandteilen - Fasern oder Lamellen - auf. Die inneren Oberflächen haben hier hinsichtlich der Elektronenstreuung offenbar die gleiche Wirkung wie freie Oberflächen. Die Lamellendicken der von uns durch gerichtete Umwandlung der ß-Cu-In-Phase hergestellten Komposite ließen das Auftreten des Size-Effektes zumindest bei tiefen Temperaturen erwarten. Daher sollte der spezifische Widerstand der gerichteten ß-Cu-In-Eutektoids nicht nur von den Bulk-Widerständen der beteiligten Phasen, sondern auch von der Dicke der Lamellen abhängen.