Skip to main content

Metallisierung und Kontakte

  • Chapter
Silizium-Halbleitertechnologie

Part of the book series: Teubner-Studienbücher: Elektrotechnik ((TSTT))

  • 97 Accesses

Zusammenfassung

Die Metallisierung stellt den elektrischen Kontakt zu den dotierten Gebieten der integrierten Schaltungselemente her und verbindet die einzelnen Komponenten eines Chips durch Leiterbahnen. Sie führt die Anschlüsse über weitere Leiterbahnen zum Rand des Chips und wird dort zu Kontaktflecken („Pads“) aufgeweitet, die als Anschluss für die Verbindungsdrähte zwischen Chip und Gehäuse oder zum Aufsetzen von Messsonden für die Parametererfassung zum Schaltungstest auf ungesägten Scheiben dienen.

This is a preview of subscription content, log in via an institution to check access.

Access this chapter

Chapter
USD 29.95
Price excludes VAT (USA)
  • Available as PDF
  • Read on any device
  • Instant download
  • Own it forever
eBook
USD 54.99
Price excludes VAT (USA)
  • Available as PDF
  • Read on any device
  • Instant download
  • Own it forever

Tax calculation will be finalised at checkout

Purchases are for personal use only

Institutional subscriptions

Preview

Unable to display preview. Download preview PDF.

Unable to display preview. Download preview PDF.

Author information

Authors and Affiliations

Authors

Rights and permissions

Reprints and permissions

Copyright information

© 1999 B. G. Teubner Stuttgart · Leipzig

About this chapter

Cite this chapter

Hilleringmann, U. (1999). Metallisierung und Kontakte. In: Silizium-Halbleitertechnologie. Teubner-Studienbücher: Elektrotechnik. Vieweg+Teubner Verlag, Wiesbaden. https://doi.org/10.1007/978-3-322-94053-7_8

Download citation

  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-322-94053-7_8

  • Publisher Name: Vieweg+Teubner Verlag, Wiesbaden

  • Print ISBN: 978-3-519-10149-9

  • Online ISBN: 978-3-322-94053-7

  • eBook Packages: Springer Book Archive

Publish with us

Policies and ethics