Zusammenfassung
Röntgenstrahlen wurden 1895 von Wilhelm Conrad Röntgen entdeckt und von ihm X-Strahlen genannt. Die Bezeichnung X-Strahlen (X-Ray) ist in vielen Ländern auch heute gebräuchlich. Die Röntgenstrahlen bilden einen Teil des elektromagnetischen Spektrums und umfassen Wellenlängen von ca. 10-8 bis 10-13 m. Die Abgrenzung zu den beiden benachbarten Gebieten der UV-Strahlung und der γ-Strahlen ist nicht streng gezogen. Einen Überblick über die Stellung der Röntgenstrahlen im Spektrum gibt Tabelle 1.1.
Access this chapter
Tax calculation will be finalised at checkout
Purchases are for personal use only
Preview
Unable to display preview. Download preview PDF.
Literatur
Coolidge, W. D., Phys. Rev. 2 (1913) 409.
Hosemann, R., Z. angew. Physik 7 (1955) 532.
Smith, H., J. Sci. Instruments 26 (1949) 378.
Peters, E. T. und Kulin, S. A., Rev. Sci. Instruments 37 (1966) 1726.
Geiger, H. und Müller, W., Phys. Z. 29 (1928) 839.
Arndt, U. W., Computing in Crystallography, ed. by Schenk, H., Delft, University Press (1978).
Stöckmann, F., Naturwiss. 36 (1949) 82.
Mayer-Kuckuk, T. und Mommsen, H., Z. Instr. Knd. 75 (1967) 309.
Glocker, R. und Frohnmayer, W., Ann. Physik 76 (1925) 369.
Siegbahn, M. und Magnusson, T., Z. Physik 96 (1935) 1.
Birks, L. S., Election probe microanalysis (Interscience Publishers, Inc., New York (1963).
Birks, L. S., X-ray spectrochemical analysis (Interscience Publishers, Inc., New York (1959).
Henke, B. L., Advances in X-ray Analysis 9 (1966) 431.
Larsson, A., Siegbahn, M. und Waller, I., Phys. Rev. 25 (1925) 235.
Laue, M. v., Sitz. math. physikl. Kl. Bay. Akad. Wiss. (1912) 303, Ann. Physik 41 (1913) 971.
Bragg, W. L., Proc. Cambridge Phil. Soc. 17 (1913) 43.
Prabuddha, B. und Charbit, P., Siemens, Z. 45 (1971) 549.
Göbel, H., Forschungsberichte der Siemens AG (1979).
Rights and permissions
Copyright information
© 1980 Friedr. Vieweg & Sohn Verlagsgesellschaft mbH, Braunschweig
About this chapter
Cite this chapter
Krischner, H. (1980). Entstehung und Eigenschaften von Röntgenstrahlen. In: Einführung in die Röntgenfeinstrukturanalyse. Vieweg+Teubner Verlag, Wiesbaden. https://doi.org/10.1007/978-3-322-98993-2_2
Download citation
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-322-98993-2_2
Publisher Name: Vieweg+Teubner Verlag, Wiesbaden
Print ISBN: 978-3-322-98994-9
Online ISBN: 978-3-322-98993-2
eBook Packages: Springer Book Archive