Transmissionselektronenmikroskopie sowie andere Abbildungs- und Analysemethoden mit Hilfe von Elektronenstrahlen

Zusammenfassung

In den vorhergehenden Kapiteln wurde ausführlich über die Raster-Oberflächen-Elektronenmikroskopie (REM) und der mit den einschlägigen Geräten auch möglichen Röntgenmikrobereichsanalyse (EDXA) berichtet, die eine große Bedeutung nicht nur in der Forschung innerhalb der holzverarbeitenden Industrie — vornehmlich in der Sparte Zellstoff und Papier — erlangt, sondern auch Eingang in das Betriebslaboratorium gefunden hat. Auch die Erweiterungen des Gerätes und damit der Methoden, beispielsweise durch Einbau von Rückstreu-Elektronendetektoren, wurden erwähnt. Dadurch wird ein Atomnummerkontrast ermöglicht und bei Anordnung von zwei BS-Detektoren in Additions-und Subtraktionsschaltung [6.1] auch ein Topographiekontrast. Erweiterungen des Gerätes ergeben sich auch durch verschiedene Möglichkeiten einer Bildsignalbehandlung (Image Processing) z. B. durch Bildanalysatoren [6.3–6.6]. Die große Anwendbarkeit des Rasterelektronenmikroskops (REM) ergibt sich einerseits aus der Tatsache, daß das REM das gegebene Instrument zum Studium von Oberflächenstrukturen ist, wobei leicht deutbare, dreidimensional wirkende Bilder erhalten werden, andererseits aus dem Umstand, daß die Herstellung der Präparate verhältnismäßig einfach und meist wenig zeitraubend ist.