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Literatur
Schanz, G. W.: Sensoren. Heidelberg 1986.
Schaumburg, H.: Werkstoffe und Bauelemente der Elektrotechnik. Bd. 2: Halbleiter. Stuttgart 1991.
Sze, S. M.: Physics of Semiconductor Devices. New York 1981.
Uhlig, R. J.: Erstellen von Ablaufsteuerungen für Chargenprozesse mit wechselnden Rezepturen. Automatisie-rungstechnische Praxis 29 (1987), Nr. 1, S. 17–23.
Gaede, K. W.: Zuverlässigkeit, MathematischeModelle. München/Wien 1977.
Härtler, G.: Statistische Methoden für die Zuverlässigkeitsanalyse. Ost-Berlin 1983.
Heinhold, J. u. K. W. Gaede: Ingenieur-Statistik. München 1964.
Köchel, P.: Zuverlässigkeit technischer Systeme. Leipzig 1983, Thun, Frankfurt/Main.
Kreyszig, E.: Statistische Me-thoden und ihre Anwendungen. Göttingen 1975.
MBB: Technische Zuverlässigkeit. Berlin, Heidelberg 1977.
Schrüfer, E.: Zuverlässigkeit von Meß-und Automatisierungsein-richtungen. München 1984.
Störmer, H.: Mathematische Theorie der Zuverlässigkeit, Einführung und Anwendung. München 1970.
Häusler, L.: MOS-Technologie. Berlin 1980.
Tsui, F.: LSI/VLSI Testability Design. New York 1987.
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Schrüfer, E. (1992). C. In: Schrüfer, E. (eds) Lexikon Meß- und Automatisierungstechnik. VDI-Buch. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-95752-9_3
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