Zusammenfassung
Im Rasterkraftmikroskop wird eine sehr feine Messspitze wird mit hoher Genauigkeit im Bereich der Nahfeldwechselwirkung über eine Oberfläche bewegt. Die Oberflächenstruktur der Probe lenkt dabei den Biegebalken mit der Spitze positionsabhängig aus, was typischerweise mit optischen Sensoren gemessen wird und ein Maß für die zwischen Spitze und Oberfläche wirkenden atomaren Kräfte darstellt. Das punktweise quantitative Aufzeichnen dieser Kräfte über ein bestimmtes Probengebiet wird zur Bilddarstellung verwendet.
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Bauch, J., Rosenkranz, R. (2017). AFM - Rasterkraftmikroskopie. In: Physikalische Werkstoffdiagnostik. Springer Vieweg, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-53952-1_8
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